Ученые Института автоматики и электрометрии СО РАН в рамках импортозамещения планируют в течение пяти лет внедрить на рынок разработанный прибор, анализирующий материалы для систем шестого поколения связи (6G). Об этом рассказал ТАСС заведующий лабораторией терагерцовой фотоники ИАиЭ СО РАН Назар Николаев.
«Мы надеемся, что на рынке в России появится доступный прибор, которого сейчас нет в серийном производстве - спектрометр, который будет полезен компаниям, разрабатывающим системы диапазона 6G. С его помощью возможен поиск новых материалов и исследование их характеристик. Так, например, возможно будет определить, какие из материалов наиболее перспективны для изготовления оптических комплектующих - составляющих устройств диапазона 6G», - сказал Николаев.
Прибор, анализирующий материалы с помощью терагерцового излучения, позволяет определить оптические и диэлектрические свойства материалов и исследовать их структуру. Также он может лечь в основу систем неразрушающего контроля, в частности промышленной продукции из материалов прозрачных для терагерцового излучения, но непрозрачных для видимых длин волн.
«Такие приборы распространены за рубежом, но сейчас их поставки, обслуживание и поддержка очень ограничены, а стоимость сильно выросла. Мы планируем создать доступную для российского пользователя систему, которая будет в несколько раз дешевле для конечного пользователя, при этом в России будет осуществляться полноценная поддержка продукта», - рассказал он.
Ученый добавил, что прибор можно будет модифицировать и использовать для решения конкретных индустриальных задач. Например, для анализа полимерных композитных материалов, которые используются в авиастроении. «Поскольку композиты прозрачны для терагерцового излучения, мы сможем анализировать их внутреннюю структуру и искать дефекты. В таком случае не будет необходимости разбирать крыло самолета и изучать срезы», - пояснил он.
Терагерцовое излучение (100-3 000 ГГц) - электромагнитное излучение с субмиллиметровой длиной волны, занимает на шкале частот промежуточное положение между инфракрасным излучением и радиочастотным СВЧ-диапазоном.